Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии
Николичев Д. Е. , Боряков А. В.
Инженерно-технические науки Бакалавриат
2011 • 110 стр. • 4 MB
5 0
5 книг найдено
Николичев Д. Е. , Боряков А. В.
Крюков Р. Н. , Карзанов В. В. , Широких Н. С. , Федотов И. А. , Николичев Д. Е.
Хазанова С. В. , Нежданов А. В. , Николичев Д. Е.
Крюков Р. Н. , Суродин С. И. , Николичев Д. Е. , Боряков А. В.
Суродин С. И. , Николичев Д. Е. , Боряков А. В.