Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии
Николичев Д. Е. , Боряков А. В.
Инженерно-технические науки Бакалавриат
2011 • 110 стр. • 4 MB
5 0
3 книг найдено
Николичев Д. Е. , Боряков А. В.
Крюков Р. Н. , Суродин С. И. , Николичев Д. Е. , Боряков А. В.
Суродин С. И. , Николичев Д. Е. , Боряков А. В.