Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум

Описание

Даны общие принципы работы атомно-силовых микроскопов, их устройство и основные конструктивные элементы. Приведено описание устройства, программного обеспечения сканирующего зондового мультимикроскопа СММ-2000 модификации 2000 г. и порядка работы на нем в режиме контактной атомно-силовой микроскопии. Подробно изложена методика запуска и пошаговой настройки микроскопа, а также получения и оптимизации изображений. Рассмотрены методы математической обработки (медианная, фурье-фильтрация и др.) и статистического анализа изображений поверхности (вычисление шероховатости, фрактальный и морфологический анализы). Даны порядок выполнения лабораторной работы, требования к оформлению отчета, а также контрольные вопросы. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по специальности «Физика металлов». Используется в дисциплинах «Получение и обработка металлов и соединений: наноматериалы и нанотехнологии» и «Кристаллография, рентгенография и микроскопия: электронная микроскопия». Подготовлено в рамках Программы создания и развития НИЯУ МИФИ.