Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум
Севрюков О.Н. , Елманов Г.Н. , Логинов Б.А.
Инженерно-технические науки Магистратура Специалитет
2011 • 64 стр. • 1.7 MB
5 0
Севрюков О.Н.
1 книг найдено
