Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии
Оболенский С. В. , Волкова Е. В. , Забавичев И. Ю.
Физика Бакалавриат Специалитет
2014 • 17 стр. • 766 KB
6 0
Забавичев И. Ю.
1 книг найдено
