Исследование характеристик диода шоттки на основе GaAs с квантовыми ямами
Шиляев П. А. , Тихов С. В.
Инженерно-технические науки Бакалавриат
2010 • 16 стр. • 495.1 KB
4 0
Тихов С. В.
2 книг найдено
Измерение и анализ электрофизических характеристик мемристорных структур
Горшков О. Н. , Коряжкина М. Н. , Касаткин А. П. , Тихов С. В. , Окулич Е. В. , Антонов И. Н.
Инженерно-технические науки Аспирантура Бакалавриат Магистратура
2015 • 31 стр. • 1.5 MB
6 0
