Обложка отсутствует
8 0
Скачать PDF

Растровая электронная микроскопия

Физика Бакалавриат Магистратура
Характеристики
96 страниц 5.7 MB
Издательство Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского
Тип издания Учебное пособие
Гриф Рекомендовано методической комиссией физического факультета для студентов ННГУ, обучающихся по направлениям подготовки: 03.03.02 «Физика» и 03.04.02 «Физика»

Описание

Учебное пособие содержит последовательное изложение физических основ растровой электронной микроскопии, принципиального устройства растрового электронного микроскопа и его функциональных элементов. Часть учебного пособия посвящена описанию микроскопа Jeol JSM-6490 и инструкции по его использованию в научных исследованиях. Важная дополнительная информация оформлена в виде отдельных приложений. Данное учебное пособие предназначено для студентов физических факультетов, специализирующихся в области физики конденсированного состояния и физического материаловедения.

Другие книги категории

Процессы получения, структура и свойства сверхпроводников на основе оксидных соединений и MgB2

Физика Бакалавриат Магистратура Специалитет
72 стр. 2 MB
19 1
Особенности разогрева и релаксации горячих электронов в тонкопленочных сверхпроводниковых наноструктурах и 2D полупроводниковых гетероструктурах при поглощении излучения инфракрасного и терагерцового диапазонов