Протонная микроскопия в радиографических методах исследования вещества
Описание
В пособии рассмотрена возможность применения высокоэнергетичной протонной радиографии для диагностики вещества. Описаны принципы разработки ионно-оптических схем для протонной микроскопии и факторы, влияющие на пространственное и временное разрешение метода протонной радиографии. Приведены результаты проектирования ионно-оптических систем для радиографических установок на пучках протонов с энергией 1 и 9 ГэВ с оценкой пространственного разрешения установок, обусловленного хроматическими аберрациями. При написании пособия использованы материалы лекций по курсу “Физика пучков заряженных частиц”, которые автор читала на факультете экспериментальной и теоретической физики НИЯУ МИФИ в 2012-2015 гг. Предназначено для магистрантов и аспирантов, специализирующихся в области физики конденсированного состояния вещества, физики плазмы и физики ускорителей, а также может быть полезно специалистам, занятым в междисциплинарных исследованиях, требующих применения современных радиографических методов.
