Особенности анализа наночастиц и наноматериалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Описание

В пособии представлены важнейшие разделы и особенности современного метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в анализе наночастиц и наноматериалов. Изложены теоретические основы метода, метрологические характеристики, многообразные применения метода, включающие анализ функциональных материалов. Рассмотрены основы качественного, количественного анализа и определения валентных состояний, производственный аналитический контроль. Представлены разработки современных приборов и аналитических систем рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Предназначено для магистров направления подготовки 04.04.01 Химия при изучении дисциплины «Инструментальные методы анализа и исследования наноматериалов», аспирантов направления 04.06.01 Химические науки, специализирующихся в области аналитической, физической химии, и направления 22.06.01 Технологии материалов.