Методы диагностики объектов разной размерности с применением синхротронного излучения

Описание

В пособии определены иерархические понятия «состав» и «строение», представлено краткое описание методов широкоуглового (wide angle) и малоуглового (small angle) рентгеновского рассеяний, резонансного рассеяния и рентгеновской абсорбционной спектроскопии (XAFS) в применении к объектам разной размерности. Приведены многочисленные примеры. Предназначено для студентов, обучающихся по курсам «Диаграммы фазовых состояний материалов», «Кристаллическая структура материалов» и «Физико-химические методы изучения материалов» по направлению 22.03.01 «Материаловедение и технологии материалов». Кроме того, пособие может быть полезным при изучении дисциплин «Органические и неорганические функциональные материалы», «Неорганические низкоразмерные структуры», а также для повышения квалификации аспирантов, научных сотрудников и профессорско-преподавательского состава. Учебное пособие издается в авторской редакции.