Методы анализа поверхности. Ч.2. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

Описание

Учебное пособие знакомит с методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии - наиболее широко используемым методом анализа поверхности, изучения электронной структуры энергетических уровней на поверхности и в приповерхностной области. Физической основой метода служит фотоэлектрический эффект. Метод РФЭС, который также называют ЭСХА – электронной спектроскопией для химического анализа, позволяет проводить одновременный многоэлементный анализ поверхности твѐрдого тела и тонких плѐнок. Определять можно любые элементы от лития до урана. Этим методом исследуют поверхности самых разных неорганических и органических материалов: металлов, сплавов, керамики, полимеров. Сегодня методы фотоэлектронной спектроскопии широко применяют для решения актуальных задач микро- и наноэлектроники, гетерогенного катализа, для контроля качества материалов высоких технологий. Предназначено для магистров направлений подготовки 04.04.01 Химия, и аспирантов - 1.4 Химические науки, специализирующихся в области аналитической (1.4.2), физической химии (1.4.4.) аспирантов направления подготовки 2.6 Химические технологии и технологии материалов, специализирующихся в области материаловедения (2.6.17).