Физические методы исследования поверхности основы
Физика Аспирантура Бакалавриат Магистратура
Характеристики
2024 год • 124 страниц • 7.7 MB
Издательство Тверской государственный университет
ISBN 978-5-7609-1980-9
Тип издания учебное пособие
Гриф Рекомендовано научно-методическим советом ТвГУ (протокол заседания № 1 от "23" октября 2024 г.)
Описание
Рассмотрены основные теоретические и практические вопросы исследования поверхности материалов. Описаны методы профилометрии, сканирующей электронной микроскопии, оптической и туннельной микроскопии. Представлены основные физические понятия, рассмотрены принципы работы приборов и устройств, приведены примеры и результаты использования методов исследования поверхности. Пособие предназначено для студентов бакалавриата и магистратуры направлений 03.03.03, 03.04.03 Радиофизика профиль «Физика и технология радиоэлектронных приборов и устройств», 03.03.02, 03.04.02 Физика профиль «Физика конденсированного состояния вещества», а также для аспирантов, специализирующихся в области физики конденсированного состояния вещества.
