Анализ микроскопических изображений объектов микроэлектроники в программном пакете Image Pro Plus
Инженерно-технические науки Магистратура
Характеристики
2018 год • 68 страниц • 11.3 MB
Издательство Казанский национальный исследовательский технический университет имени А. Н. Туполева
ISBN 978-5-7579-2304-8
Тип издания Учебно-методическое пособие
Гриф Рекомендовано к изданию Учебно-методическим управлением КНИТУ-КАИ
Описание
Рассмотрено применение метода анализа изображений для исследования морфологии и кристаллического строения тонких пленок кремнезема, полученных золь-гель методом. Разработано к дисциплинам «Микро- и нанотехнологии» магистерской программы направления 11.04.03 (211000.68) и «Конструирование и технология электронных средств» по магистерской программе «Информационные технологии проектирования электронно-вычислительных средств». Может быть использовано студентами при выполнении учебноисследовательских, курсовых и дипломных работ.
